3.7.1. Основы метода
Классическое представление. Заряженная частица, имеющая свой механический момент (спин), при движении создает магнитное поле, т. е. имеет собственный магнитный момент
Sg SSS
(для электрона), (3.60)
Ig III
(для ядра), (3.61)
где S
– спин электрона; I
– спин ядра; cm
eh
e S
2 – магнитный момент
электрона (магнетон Бора); cm
eh
P I
2 – ядерный магнетон; mp – масса
протона; g – спектроскопический фактор расщепления.
o HЕ
. (3.62)
Так как mp > em в ≈ 10 3 , то магнитный момент ядра во столько же
раз меньше магнитного момента электрона. При перемещении заряженной частицы в постоянное поле H0
(рис. 3.48), направленное вдоль оси Z, ее магнитный момент
взаимо- действует с полем с энергией.
В результате взаимодействия, частица получает вращательный мо- мент, вызывая прецессию вектора
вокруг H0 под углом θ с частотой
ν0 = gβH0.
Рис. 3.48. Прецессия магнитного момента µ в магнитном поле H0,
θ – угол прецессии
Такая прецессия создает переменный магнитный момент µ sin θ, вращающийся в плоскости xy с частотой ν0.
99
Если в той же плоскости, в том же направлении вращается пере- менное магнитное поле H1 с частотой ν1, то это поле взаимодействует с переменным магнитным моментом µ sin θ.
Взаимодействие тем больше, чем частота ν1 ближе к ν0. При ν1 = ν0 наступает резонанс, сопровождающийся поглощением
энергии переменного магнитного поля H1. Квантово-механическое представление. С позиции квантово-
механической модели состояния спина (электронного или ядерного) и магнитного момента
квантованы. В отсутствии магнитного поля со-
стояния частицы, характеризующиеся квантовыми числами 2 1
, вы-
рождены, т. е. имеют одно и тоже значение энергии. При помещении частицы в постоянное магнитное поле H0 вырождение снимается и
энергии уровней с 2 1
m S
и 2 1
m S
оказываются неравномерными
(рис. 3.49). Это выражается в расщеплении уровней энергии в магнитном поле
(эффект Зеемана).
Для электрона состояние с 2 1
m S
(состояние β) отвечает более
низкому значению энергии, чем состояние 2 1
m S
(состояние α).
Рис. 3.49. Схема расщепления энергетических уровней электрона в постоян-
ном магнитном поле
100
При hν = ΔE происходит поглощение энергии переменного маг- нитного поля. В ядерном магнитном резонансе наблюдается обратная картина.
Ранее упоминали, что
0 HЕ
и для e HSgE
.
Если применить правило скалярного произведения, то
S00 mHgcosSHgE , (3.63)
и для энергии состояния α и β получим
0 Hg
2 1
E и 0
Hg 2 1
E . (3.64)
Расстояние между уровнями
0 HgEEE . (3.65)
Магнитный резонанс возникает вследствие переходов частицы из нижнего энергетического состояния в более высокое состояние, инду- цируемое полем H1 c частотой ν1.
Условием перехода является уравнение резонанса
01 HghE .
Однако существуют релаксационные процессы, возвращающие си- стему в равновесное состояние вследствие наличия безизлучательных процессов.
1. Спин-решеточная релаксация связана с передачей энергии яд- рам окружающей среды (решетке) и превращением ее в тепловую. Чем больше время релаксации, тем меньше сигнал (явление насыщения).
Если время мало, то линия поглощения сильно уширяется. Это связано с неопределенностью Гейзенберга
h~E , (3.66) где ΔЕ – неопределенность в оценке энергии; Δη – в оценке времени.
Например: ширина линии ЭПР для свободных органических ради- калов ~ 1Э; для парамагнитных ионов переходных металлов Δη мало и линии уширяются до 10 Э. Спектры ЭПР ионов 4f-элементов, для кото- рых спин-орбитальное взаимодействие велико, вообще не наблюдаются.
2. Спин-спиновая релаксация заключается в обмене энергии меж- ду спинами частиц. Ядра одного атома с высокой энергией передают
101
часть своей энергии другому атому, находящемуся в более низком энер- гетическом состоянии.
Для экспериментального наблюдения резонансного поглощения существуют две возможности.
В любом случае должно соблюдаться условие резонанса
01 Hgh . (3.67)
Можно варьировать частоту γ1 при постоянном магнитном поле H0, или изменять напряженность магнитного поля H0, оставляя неизменной γ1.
В спектрометрах ЭПР и в большинстве ЯМР-спектрометрах реали- зуется вторая возможность.
Рис. 3.50. Схема радиоспектрометра: 1 – клистрон; 2 – резонатор; 3 – магнит;
4 – детектор; 5 – усилитель; 6 – регистрирующее устройство
Электромагнитные колебания от генератора (клистрона) поступают в резонатор (поглощающую ячейку) (рис. 3.50). Резонатор и помещен- ное в него исследуемое вещество находятся в постоянном магнитном поле. Напряженность магнитного поля сканируется. При достижении резонанса исследуемое вещество поглощает энергию, количество кото- рого детектируется, усиливается и поступает на регистрирующее устройство.
Регистрация спектра осуществляется либо в виде линий поглоще- ния, либо в виде ее первой производной (рис. 3.51).
Чаще в ЯМР спектроскопии регистрируют сигнал поглощения, а в ЭПР – ее первую или вторую производную.
При обычно применяемых магнитных полях 10 3 –10
4 частоты ЯМР
попадают в диапазон коротких радиоволн 10 6 –10
8 Гц, а в ЭПР – в мик-
роволновой 10 8 –10
10 Гц. Большинство ЭПР – спектрометров работает на
частоте 9400 мГц (λ=3,2 см), что соответствует напряженности поля H0 = 3300 Э для g = 2.
102
Рис. 3.51. Спектры: а – линии поглощения; б – первая производная
- Глава 1. Отбор и подготовка пробы к анализу
- 1.1. Отбор пробы
- 1.2. Отбор пробы газов
- 1.3. Отбор проб жидкостей
- 1.4. Отбор пробы твердых веществ
- 1.5. Способ отбора
- 1.6. Потери при пробоотборе и хранение пробы
- 1.7. Подготовка пробы к анализу
- Глава 2. Статистическая обработка результатов
- 2.1. Погрешности химического анализа. Обработка результатов измерений
- 2.2. Систематическая ошибка
- 2.3. Оценка точности и правильности измерений при малом числе определений
- 2.4. Доверительный интервал и доверительная вероятность (надежность)
- 2.5. Аналитический сигнал. Измерение
- Глава 3. Спектральные методы исследования веществ
- 3.1. Абсорбционная спектроскопия
- 3.1.1. Фотометрический анализ
- 3.1.1.1. Выбор длины света и светофильтра в фотометрическом анализе
- 3.1.1.2. Основные приемы фотометрического анализа
- 3.1.1.3. Анализ смеси окрашенных веществ
- 3.1.1.4. Аппаратура, используемая в анализе
- 3.1.1.5. Нефелометрия и турбидиметрия
- 3.1.2. Атомно-абсорбционная спектроскопия
- 3.1.2.1. Основы метода
- 3.1.2.2. Аппаратура, используемая в анализе
- 3.2. Эмиссионный спектральный анализ
- 3.2.1. Происхождение эмиссионных спектров
- 3.2.2. Источник возбуждения
- 3.2.3. Качественный анализ
- 3.2.4. Количественный анализ
- 3.2.5. Схема проведения аэса
- 3.2.6. Аппаратура, используемая в анализе
- 3.2.6.1. Принцип работы универсального стилоскопа
- 3.2.6.2. Принцип работы спектрографа
- 3.2.6.3. Принцип работы микрофотометра
- 3.3. Фотометрия пламени
- 3.3.1. Чувствительность анализа
- 3.3.2. Количественное определение элементов
- 3.3.3. Измерение интенсивности излучения
- 3.3.4. Методы определения концентрации растворов в фотометрии пламени
- 3.4. Методы колебательной спектроскопии. Ик-спектроскопия и спектроскопия комбинационного рассеяния
- 3.4.1. Основы методов
- 3.4.2. Спектры ик и комбинационного рассеяния (кр)
- 3.4.3. Аппаратура, используемая в анализе
- 3.5. Люминесцентный анализ
- 3.5.1. Классификация и величины, характеризующие люминесцентное излучение
- 3.5.2. Основы метода
- 3.5.3. Аппаратура, используемая в анализе
- 3.6. Рентгеновская спектроскопия
- 3.6.1. Основные методы
- 3.6.1.1. Взаимодействие рентгеновского излучения с веществом
- 3.6.1.2. Рентгеновский спектр
- 3.6.2. Рентгено-эмиссионный анализ
- 3.6.2.1. Качественный анализ
- 3.6.2.2. Количественный анализ
- 3.6.2.3. Аппаратура
- 3.6.3.2. Аппаратура метода
- 3.6.4. Рентгено-абсорбционный анализ
- 3.6.5.1. Основы метода
- 3.6.5.2. Аппаратура
- 3.7. Радиоспектроскопические методы
- 3.7.1. Основы метода
- 3.7.2. Электронный парамагнитный резонанс
- 3.7.3. Ядерно-магнитный резонанс
- 3.7.3.1. Основы метода
- 3.7.3.2. Аппаратура
- 3.7.4. Ядерный квадрупольный резонанс
- 3.7.5. Другие методы радиоспектроскопии
- 3.8. Ядерная спектроскопия
- 3.8.4. Нейтронная спектроскопия
- 3.9. Лазерная спектроскопия
- 3.10. Электронная спектроскопия
- 3.10.1. Фотоэлектронная спектроскопия
- 3.10.2. Спектроскопия характеристических потерь энергии электронов
- 3.11. Вакуумная спектроскопия
- 3.12. Ультрафиолетовая спектроскопия
- Глава 4. Масс-спектрометрический метод анализа
- 4.1. Принцип действия масс-спектрометра
- 4.2. Виды масс-анализаторов
- 4.3. Элементный анализ
- 4.4. Интерпретация масс-спектров
- Глава 5. Хроматографические методы
- 5.1. Классификация хроматографических методов
- 5.2. Хроматографические параметры
- 5.3. Теория хроматографического разделения
- 5.4. Теория теоретических тарелок
- 5.5. Кинетическая теория хроматографии
- 5.6. Аппаратура
- 5.7. Качественный анализ
- 5.8. Количественный анализ
- 5.9. Газовая хроматография
- 5.9.1. Газотвердофазная хроматография
- 5.9.2. Газожидкостная хроматография
- 5.10. Жидкостная хроматография
- Глава 6. Электрохимические методы
- 6.1. Основные понятия электрохимии
- 6.1.1. Электрохимическая ячейка и ее электрический эквивалент
- 6.1.2. Индикаторный электрод и электрод сравнения
- 6.1.3. Гальванический элемент
- 6.1.4. Электрохимические системы
- 6.1.4.1. Равновесные электрохимические системы
- 6.1.4.2. Неравновесные электрохимические системы
- 6.2. Потенциометрия
- 6.2.1. Прямая потенциометрия (ионометрия)
- 6.2.2. Потенциометрическое титрование
- 6.2.3. Аппаратура
- 6.3. Кулонометрия
- 6.3.1. Прямая кулонометрия
- 6.3.2. Кулонометрическое титрование
- 6.4. Вольтамперометрия
- 6.4.1. Амперометрическое титрование
- 6.4.2. Титрование с двумя индикаторными электродами
- 6.5. Кондуктометрический метод анализа
- Глава 7. Методы термического анализа
- 7.1. Термогравиметрия и дтг
- 7.2. Метод дифференциального термического анализа
- 7.3. Дифференциальная сканирующая калориметрия
- 7.4. Дериватография
- 7.5. Дилатометрия и другие термические методы анализа
- Глава 8. Дифракционные методы анализа
- 8.1. Основы теории дифракции
- 8.2. Методы дифракционного анализа
- Глава 9. Микроскопические методы анализа
- 9.1. Световая микроскопия
- 9.2. Электронная микроскопия
- 9.2.1. Растровая электронная микроскопия
- 9.2.1.1. Аппаратура метода рэм
- 9.2.1.2. Использование вторичных и отраженных электронов в рэм
- 9.2.1.3. Типы контраста в растровой электронной микроскопии
- 9.2.1.4. Выбор условий работы рэм и подготовка образцов
- 9.2.1.5. Объекты исследования и их подготовка
- 9.2.2. Просвечивающая электронная микроскопия
- 9.2.2.1. Общая характеристика пэм
- 9.2.2.2. Аппаратура метода
- 9.2.2.3. Разновидности метода пэм
- 9.3. Сканирующие зондовые методы исследования
- 9.3.1. Сканирующая туннельная микроскопия
- 9.3.2. Атомно-силовая микроскопия
- 9.3.3. Магнитосиловая зондовая микроскопия
- 9.3.4. Сканирующая микроскопия ближней оптической зоны
- Глава 3. Спектральные методы исследования веществ .................................................................................................... 25
- Глава 4. Масс-спектрометрический метод анализа ....................................................................................................................... 152
- Глава 6. Электрохимические методы .............................. 193 6.1. Основные понятия электрохимии .............................................. 194