3.12. Ультрафиолетовая спектроскопия
Ультрафиолетовая спектроскопия – раздел спектроскопии, вклю- чающий получение, исследование и применение спектров испускания, поглощения и отражения в УФ-области спектра (400–10 нм).
Исследованием спектров в области 200–10 нм занимается вакуум- ная спектроскопия (раздел 3.11).
При облучении УФ-светом вещество не разрушается и не изменя- ется, что позволяет получать данные о его химическом составе и струк- туре.
В УФ-области проявляются электронные спектры (положение по- лос и линий определяется разностью энергий различных электронных состояний атомов и молекул), лежат резонансные линии нейтральных, одно- и двукратно ионизованных атомов, спектральные линии, испуска- емые многократно ионизованными атомами в возбужденном состоянии.
В ближней УФ-области находятся полосы поглощения большин- ства полупроводников, возникающие при прямых переходах электронов из валентной зоны в зону проводимости.
Наличие электронно-колебательных полос молекул, связанное с переходами между орбиталями, позволяет использовать УФ-спектро- скопию для изучения электронного строения молекул, установления ти- па химических связей и т. д. В основе этих исследований лежит отнесе- ние полос поглощения (с учетом их положения и интенсивности) УФ-спектров к определенным электронным переходам. Обычно под термином «ультрафиолетовая спектроскопия» понимают именно эту область спектроскопии.
Многие химические соединения дают сильные полосы поглощения в УФ-области, что создаѐт преимущества использования ультрафиоле- товой спектроскопии в спектральном анализе. Наличие интенсивных характеристических полос в УФ-спектрах химических соединений ис- пользуется для разработки методов их идентификации и определения методами абсорбционной спектроскопии.
Для насыщенных углеводородов возможны только * -пере-
ходы, требующие больших энергий (соответствующие им полосы лежат в области вакуумного УФ 100÷200 нм). Для ненасыщенных соединений характерны
* -переходы, проявляющиеся при длинах волн
165–200 нм. Наличие сопряжения, алкильных или других заместителей приводит к смещению полос в длинноволновую область (батохромный
142
сдвиг). В более коротковолновой области проявляются полосы высокой интенсивности
* n - и
* n -переходов (рис. 3.71).
Характер спектра поглощения зависит от взаимного расположения хромофоров. Если хромофорные группы соединены непосредственно, то в спектре наблюдаются сильные изменения по сравнению со спек- трами соединений с изолированными хромофорными группами. Полосы в спектрах ароматических соединений связаны с переходами π-электронов ароматической системы.
Рис. 3.71. Общая картина переходов
На вид спектра влияют заместители (такие как, например, галогены – незначительно, группы с неподеленными электронными парами, например, ОН, OR, NH2 – сильно). УФ спектры ароматических соедине- ний зависят не только от характера, но и от взаимного расположения заместителей.
УФ-спектроскопию применяют для изучения кинетики химических и фотохимических реакций, исследования люминесценции, вероятно- стей квантовых переходов в твердых телах, установления состава кос- мических объектов и изучения протекающих на них процессов.
Техника измерения УФ-спектроскопии схожа с техникой спектро- фотометрии. Спектральные приборы для УФ-спектроскопии отличают- ся тем, что вместо стеклянных оптических деталей применяют кварце- вые (реже флюоритовые или сапфировые), не поглощающие УФ-излучение.
Для возбуждения УФ-спектров испускания атомов и молекул слу- жат пламя (эмиссионная фотометрия пламени), дуга постоянного или переменного тока, низко- и высоковольтные искры, СВЧ разряд, плаз- мотроны, лазерное излучение и т. д. УФ-спектры поглощения и отраже-
143
ния получают с использованием дейтериевых (водородных), ртутных, ксеноновых и др. газоразрядных ламп. Источниками линейчатых спек- тров служат спектральные лампы различной конструкций, лазеры, излу- чающие в УФ-области.
Для отражения УФ-излучения используют алюминиевые покрытия. Приемниками служат обычные или маложелатиновые фотоматериалы, фотоэлектронные умножители, счетчики фотонов, фотодиоды, иониза- ционные камеры. При измерении интенсивности УФ-излучения в каче- стве эталонных применяют источники, имеющие в УФ-области спектра известное распределение спектральной яркости (вольфрамовая лампа, угольная дуга, синхротронное излучение).
Контрольные вопросы
1. Техника УФ-спектроскопии. 2. Что лежит в основе использования УФ-спектроскопии для изуче-
ния электронного строения молекул? 3. Какие спектры проявляются в УФ-области? 4. Применение УФ-спектроскопии.
Тестовые вопросы к главе 3
1. К спектроскопическим методам анализа, основанным на поглоще- нии веществом электромагнитного излучения, относится: a) атомно-абсорбционная спектроскопия; b) атомно-эмиссионная спектроскопия; c) люминесценция.
2. Электромагнитное излучение с наименьшей энергией используется
в: a) УФ-спектрофотометрии; b) ИК-спектрофотометрии; c) атомно-абсорбционной спектроскопии; d) ЯМР-спектроскопии.
3. Интенсивность света, выходящего из раствора, в 10 раз меньше ин-
тенсивности падающего света. Оптическая плотность раствора рав- на: a) 0,01; b) 0,1; c) 0,5; d) 1,0.
144
4. Согласно основному закону светопоглощения зависимость между оптической плотностью и концентрацией поглощающего вещества является: a) прямо пропорциональной; b) обратно пропорциональной; c) логарифмической; d) степенной.
5. В качестве источника УФ-излучения в спектрофотометре исполь-
зуют: a) лампу с полым катодом; b) дейтериевую лампу; c) штифт Нернста.
6. К ИК-диапазону относится электромагнитное излучение с длиной
волны (нм): a) 50; b) 500; c) 5000; d) 5000000.
7. В качестве детектирующего устройства в спектрофлуориметре ис-
пользуется: a) фотоэлемент; b) фотоумножитель; c) пневмодетектор; d) фотопластинка.
8. Метод атомно-абсорбционной спектроскопии используется:
a) только в качественном анализе; b) только для количественного определения веществ; c) как для идентификации, так и для количественного определе-
ния; d) в структурном анализе.
9. Метод атомно-эмиссионной спектроскопии используется:
a) только в качественном анализе; b) только для количественного определения веществ; c) как для идентификации, так и для количественного определе-
ния; d) в структурном анализе.
145
10. В спектроскопии ЯМР используется излучение диапазона: a) рентгеновского; b) ультрафиолетового; c) радиодиапазона; d) видимого.
11. К спектроскопическим методам анализа, основанным на испуска-
нии веществом электромагнитного излучения, относится: a) флуориметрия; b) атомно-абсорбционная спектроскопия; c) ИК-спектроскопия; d) рефрактометрия.
12. Спектр поглощения вещества представляет собой зависимость оп-
тической плотности раствора от: a) длины волны; b) молярной концентрации вещества; c) титра раствора; d) толщины поглощающего слоя.
13. Интенсивность света, выходящего из раствора, в 5 раз меньше ин-
тенсивности падающего света. Величина пропускания (%) равна: a) 2; b) 20; c) 50; d) 10.
14. Не является линейной зависимость между оптической плотностью
и: a) концентрацией; b) пропусканием; c) толщиной поглощающего слоя; d) удельным показателем поглощения.
15. В качестве источника видимого излучения в спектрофотометре ис-
пользуют: a) лампу с полым катодом; b) дейтериевую лампу; c) штифт Нернста; d) лампу накаливания.
146
16. ИК-спектры получают в диапазоне волновых чисел (см -1
): a) 40–10; b) 400–20; c) 4000–200; d) 40000–20000.
17. По сравнению с возбуждением измерение флуоресценции прово-
дится: a) при большей длине волны; b) при меньшей длине волны; c) при большем волновом числе; d) при большей частоте.
18. В качестве детектора в атомно-абсорбционном спектрометре ис-
пользуется: a) фотоэлемент; b) фотоумножитель; c) термопара; d) пневмодетектор.
19. Величина ядерного спина нуклида
1 H равна:
a) 0; b) 1/2; c) 1; d) 3/2.
20. Объектами изучения спектроскопии ЭПР обычно являются:
a) полимеры; b) вещества, способные к ионному обмену; c) соединения, содержащие атомы водорода; d) свободные радикалы.
21. Является безэталонным методом анализа:
a) атомно-эмиссионная спектроскопия; b) кулонометрия; c) потенциометрическое титрование; d) ИК-спектроскопия.
22. К спектроскопическим методам анализа, в которых вещество не
поглощает и не испускает электромагнитного излучения, относит- ся: a) спектрофотометрия;
147
b) флуориметрия; c) рефрактометрия; d) ИК-спектроскопия.
23. Интенсивность света, выходящего из раствора, в 10 раз меньше ин-
тенсивности падающего света. Оптическая плотность раствора рав- на: a) 0,01; b) 0,1; c) 0,5; d) 1,0.
24. Измерения оптической плотности исследуемого раствора проводят
в кюветах с различной толщиной поглощающего слоя. При какой его величине (мм) оптическая плотность раствора максимальна? a) 5; b) 10; c) 20; d) 50.
25. В спектрофотометрии не используется кювета:
a) стеклянная; b) кварцевая; c) термостатированная; d) электротермическая.
26. При деформационных колебаниях происходит:
a) изменение валентных углов; b) изменение длин связей; c) возбуждение валентных электронов; d) изменение ядерно-спинового состояния.
27. В отличие от молекул атомы:
a) имеют спектры поглощения (испускания), состоящие из широ- ких волос;
b) имеют линейчатые спектры поглощения (испускания); c) не поглощают электромагнитное излучение видимого диапа-
зона; d) поглощают только ИК-излучение.
28. Не относится к магнитоактивным нуклид:
a) 1H;
148
b) 12C; c) 13C; d) 15N.
29. Тонкая структура возникает в спектрах ЭПР у частиц:
a) содержащих один неспаренный электрон; b) все электроны в которых спарены; c) содержащих несколько неспаренных электронов; d) любых.
30. Электромагнитное излучение с наибольшей длиной волны исполь-
зуется в: a) УФ-спектрофотометрии; b) флуориметрии; c) ИК-спектроскопии; d) ЯМР-спектроскопии.
31. В качестве детектора в ИК-спектрометрах используют:
a) фотоэлемент; b) фотоумножитель; c) фотопластинку; d) термопару.
32. Источником излучения в приборе для атомно-эмиссионной спек-
троскопии является: a) дейтериевая лампа; b) лампа накаливания; c) лампа с полым катодом; d) возбуждѐнные атомы определяемого элемента.
33. Поглощение электромагнитного излучения в ЯМР-спектроскопии
обусловлено энергетическими переходами между: a) электронными состояниями; b) колебательными состояниями; c) вращательными состояниями; d) ядерно-спиновыми состояниями.
34. Поглощение электромагнитного излучения в спектроскопии ЭПР
обусловлено энергетическими переходами между: a) электронными состояниями; b) колебательными состояниями; c) вращательными состояниями;
149
d) электронно-спиновыми состояниями. 35. Укажите метод анализа, который может быть использован для
определения структуры неизвестного органического соединения: a) ЯМР-спектроскопия; b) кулонометрия; c) фотометрическое титрование.
36. Электромагнитное излучение с наименьшей длиной волны исполь-
зуется в: a) ИК-спектроскопии; b) спектроскопия в видимой области спектра; c) ЯМР-спектроскопии; d) УФ-спектроскопии.
37. Какие из составных частей спектрофотометра обозначены цифрами
1, 2 и 3? источник излучения – 1 – 2 – 3 – регистрирующее устрой- ство a) 1 – детектор, 2 – кюветное отделение, 3 – монохроматор; b) 1 – детектор, 2 – монохроматор, 3 – кюветное отделение; c) 1 – кюветное отделение, 2 – монохроматор, 3 – детектор; d) 1 – монохроматор, 2 – кюветное отделение, 3 – детектор.
38. В качестве детектора спектрофотометр и фотоэлектроколориметр
содержат: a) фотоэлемент; b) фотоумножитель; c) фотопластинку; d) пневмодетектор.
39. Наиболее эффективным атомизатором в атомно-эмиссионной спек-
троскопии является: a) пламя; b) искра; c) дуга; d) индуктивно связанная плазма.
40. Пламя в атомно-абсорбционной спектроскопии используется в ка-
честве: a) источника излучения; b) атомизатора; c) монохроматора;
150
d) детектора излучения. 41. ЯМР-спектр представляет собой зависимость величины поглоще-
ния от: a) длины волны; b) напряжѐнности магнитного поля; c) частоты; d) химического сдвига.
42. В спектроскопии ЭПР используется электромагнитное излучение
диапазона: a) ультрафиолетового; b) видимого; c) инфракрасного; d) микроволнового.
43. Не относится к оптическим методам анализа:
a) ЯМР-спектроскопия; b) рефрактометрия; c) поляриметрия; d) УФ-спектрофотометрия.
44. Электромагнитное излучение с наибольшей энергией используется
в: a) рентгеновской спектроскопии; b) рефрактометрии; c) ИК-спектроскопии; d) ЯМР-спектроскопии.
45. Фотоэлектроколориметр принципиально отличается от спектрофо-
тометра тем, что: a) не имеет источника излучения; b) имеет набор светофильтров, а спектрофотометр – монохрома-
тор; c) имеет монохроматор, а спектрофотометр – набор светофиль-
тров; d) в качестве детектора имеет фотоэлемент.
46. Если в спектре поглощения вещества имеются полосы при длинах
волн 400–800 нм, то данное вещество: a) обладает интенсивной флуоресценцией; b) окрашено;
151
c) может относиться к алканам; d) не может быть углеводородом.
47. Электромагнитное излучение является возбуждающим фактором в
случае: a) фотолюминесценции; b) хемилюминесценция; c) сонолюминесценция; d) биолюминесценция.
48. Спектром флуоресценции называется зависимость:
a) интенсивности флуоресценции от длины волны возбуждающе- го излучения;
b) интенсивности флуоресценции от длины волны испускаемого излучения;
c) длины волны возбуждающего излучения от длины волны ис- пускаемого излучения.
49. В атомно-эмиссионной спектроскопии не используется атомизатор:
a) пламенный; b) электротермический; c) дуговой; d) искровой.
50. В ЯМР-спектрометрах отсутствует:
a) магнит; b) генератор радиочастоты; c) приѐмник и усилитель радиочастоты; d) атомизатор.
51. ЯМР-спектроскопия используется в основном в:
a) элементном анализе; b) структурном анализе; c) количественном анализе; d) молекулярном анализе.
152
- Глава 1. Отбор и подготовка пробы к анализу
- 1.1. Отбор пробы
- 1.2. Отбор пробы газов
- 1.3. Отбор проб жидкостей
- 1.4. Отбор пробы твердых веществ
- 1.5. Способ отбора
- 1.6. Потери при пробоотборе и хранение пробы
- 1.7. Подготовка пробы к анализу
- Глава 2. Статистическая обработка результатов
- 2.1. Погрешности химического анализа. Обработка результатов измерений
- 2.2. Систематическая ошибка
- 2.3. Оценка точности и правильности измерений при малом числе определений
- 2.4. Доверительный интервал и доверительная вероятность (надежность)
- 2.5. Аналитический сигнал. Измерение
- Глава 3. Спектральные методы исследования веществ
- 3.1. Абсорбционная спектроскопия
- 3.1.1. Фотометрический анализ
- 3.1.1.1. Выбор длины света и светофильтра в фотометрическом анализе
- 3.1.1.2. Основные приемы фотометрического анализа
- 3.1.1.3. Анализ смеси окрашенных веществ
- 3.1.1.4. Аппаратура, используемая в анализе
- 3.1.1.5. Нефелометрия и турбидиметрия
- 3.1.2. Атомно-абсорбционная спектроскопия
- 3.1.2.1. Основы метода
- 3.1.2.2. Аппаратура, используемая в анализе
- 3.2. Эмиссионный спектральный анализ
- 3.2.1. Происхождение эмиссионных спектров
- 3.2.2. Источник возбуждения
- 3.2.3. Качественный анализ
- 3.2.4. Количественный анализ
- 3.2.5. Схема проведения аэса
- 3.2.6. Аппаратура, используемая в анализе
- 3.2.6.1. Принцип работы универсального стилоскопа
- 3.2.6.2. Принцип работы спектрографа
- 3.2.6.3. Принцип работы микрофотометра
- 3.3. Фотометрия пламени
- 3.3.1. Чувствительность анализа
- 3.3.2. Количественное определение элементов
- 3.3.3. Измерение интенсивности излучения
- 3.3.4. Методы определения концентрации растворов в фотометрии пламени
- 3.4. Методы колебательной спектроскопии. Ик-спектроскопия и спектроскопия комбинационного рассеяния
- 3.4.1. Основы методов
- 3.4.2. Спектры ик и комбинационного рассеяния (кр)
- 3.4.3. Аппаратура, используемая в анализе
- 3.5. Люминесцентный анализ
- 3.5.1. Классификация и величины, характеризующие люминесцентное излучение
- 3.5.2. Основы метода
- 3.5.3. Аппаратура, используемая в анализе
- 3.6. Рентгеновская спектроскопия
- 3.6.1. Основные методы
- 3.6.1.1. Взаимодействие рентгеновского излучения с веществом
- 3.6.1.2. Рентгеновский спектр
- 3.6.2. Рентгено-эмиссионный анализ
- 3.6.2.1. Качественный анализ
- 3.6.2.2. Количественный анализ
- 3.6.2.3. Аппаратура
- 3.6.3.2. Аппаратура метода
- 3.6.4. Рентгено-абсорбционный анализ
- 3.6.5.1. Основы метода
- 3.6.5.2. Аппаратура
- 3.7. Радиоспектроскопические методы
- 3.7.1. Основы метода
- 3.7.2. Электронный парамагнитный резонанс
- 3.7.3. Ядерно-магнитный резонанс
- 3.7.3.1. Основы метода
- 3.7.3.2. Аппаратура
- 3.7.4. Ядерный квадрупольный резонанс
- 3.7.5. Другие методы радиоспектроскопии
- 3.8. Ядерная спектроскопия
- 3.8.4. Нейтронная спектроскопия
- 3.9. Лазерная спектроскопия
- 3.10. Электронная спектроскопия
- 3.10.1. Фотоэлектронная спектроскопия
- 3.10.2. Спектроскопия характеристических потерь энергии электронов
- 3.11. Вакуумная спектроскопия
- 3.12. Ультрафиолетовая спектроскопия
- Глава 4. Масс-спектрометрический метод анализа
- 4.1. Принцип действия масс-спектрометра
- 4.2. Виды масс-анализаторов
- 4.3. Элементный анализ
- 4.4. Интерпретация масс-спектров
- Глава 5. Хроматографические методы
- 5.1. Классификация хроматографических методов
- 5.2. Хроматографические параметры
- 5.3. Теория хроматографического разделения
- 5.4. Теория теоретических тарелок
- 5.5. Кинетическая теория хроматографии
- 5.6. Аппаратура
- 5.7. Качественный анализ
- 5.8. Количественный анализ
- 5.9. Газовая хроматография
- 5.9.1. Газотвердофазная хроматография
- 5.9.2. Газожидкостная хроматография
- 5.10. Жидкостная хроматография
- Глава 6. Электрохимические методы
- 6.1. Основные понятия электрохимии
- 6.1.1. Электрохимическая ячейка и ее электрический эквивалент
- 6.1.2. Индикаторный электрод и электрод сравнения
- 6.1.3. Гальванический элемент
- 6.1.4. Электрохимические системы
- 6.1.4.1. Равновесные электрохимические системы
- 6.1.4.2. Неравновесные электрохимические системы
- 6.2. Потенциометрия
- 6.2.1. Прямая потенциометрия (ионометрия)
- 6.2.2. Потенциометрическое титрование
- 6.2.3. Аппаратура
- 6.3. Кулонометрия
- 6.3.1. Прямая кулонометрия
- 6.3.2. Кулонометрическое титрование
- 6.4. Вольтамперометрия
- 6.4.1. Амперометрическое титрование
- 6.4.2. Титрование с двумя индикаторными электродами
- 6.5. Кондуктометрический метод анализа
- Глава 7. Методы термического анализа
- 7.1. Термогравиметрия и дтг
- 7.2. Метод дифференциального термического анализа
- 7.3. Дифференциальная сканирующая калориметрия
- 7.4. Дериватография
- 7.5. Дилатометрия и другие термические методы анализа
- Глава 8. Дифракционные методы анализа
- 8.1. Основы теории дифракции
- 8.2. Методы дифракционного анализа
- Глава 9. Микроскопические методы анализа
- 9.1. Световая микроскопия
- 9.2. Электронная микроскопия
- 9.2.1. Растровая электронная микроскопия
- 9.2.1.1. Аппаратура метода рэм
- 9.2.1.2. Использование вторичных и отраженных электронов в рэм
- 9.2.1.3. Типы контраста в растровой электронной микроскопии
- 9.2.1.4. Выбор условий работы рэм и подготовка образцов
- 9.2.1.5. Объекты исследования и их подготовка
- 9.2.2. Просвечивающая электронная микроскопия
- 9.2.2.1. Общая характеристика пэм
- 9.2.2.2. Аппаратура метода
- 9.2.2.3. Разновидности метода пэм
- 9.3. Сканирующие зондовые методы исследования
- 9.3.1. Сканирующая туннельная микроскопия
- 9.3.2. Атомно-силовая микроскопия
- 9.3.3. Магнитосиловая зондовая микроскопия
- 9.3.4. Сканирующая микроскопия ближней оптической зоны
- Глава 3. Спектральные методы исследования веществ .................................................................................................... 25
- Глава 4. Масс-спектрометрический метод анализа ....................................................................................................................... 152
- Глава 6. Электрохимические методы .............................. 193 6.1. Основные понятия электрохимии .............................................. 194