3.7.2. Электронный парамагнитный резонанс
Электронный парамагнитный резонанс (ЭПР) – явление резонанс- ного поглощения электромагнитного излучения парамагнитными ча- стицами, помещенными в постоянное магнитное поле.
Сигнал ЭПР наблюдается для веществ, в атомах или молекулах ко- торых имеются неспаренные электроны: 1) неорганические и органические радикалы; 2) ионы с частично заполненными внутренними уровнями (3d и 4d
переходные элементы и некоторые 4f-элементы); 3) атомы и молекулы с нечетным числом электронов; 4) кристаллы, имеющие центры окраски; 5) металлы и полупроводники, имеющие электроны проводимости.
ЭПР – исследования (рис. 3.52) проводят с жидкими и твердыми образцами.
Положение линии поглощения в магнитном поле определяется g-фактором, являющимся мерой эффективного магнитного момента электрона.
Величина g-фактора – индивидуальное свойство каждого вещества. По уравнению резонанса можно рассчитать g-фактор, H0 находится
экспериментально. Вычисление ν1 часто затруднено, т. к. частота коле- баний клистрона может меняться. Поэтому используют образцы срав- нения, g-факторы которых известны. К ним относится стабильный ра- дикал дифинилпикрилгидразина (ДФПГ), тогда
x0
ДФПГДФПГ0 x
x0
ДФПГ0
ДФПГ
x
x0x1
ДФПГ0ДФПГ1
H gH
g H
H g
g HghV
HghV . (3.68)
103
Рис. 3.52. ЭПР-спектроскоп
Если неспаренный электрон e находится в атоме, ядро которого имеет ядерный спин, то они взаимодействуют, в результате появляются дополнительные линии в спектре ЭПР (рис. 3.53), называемые сверх- тонкой структурой (СТС).
Рис. 3.53. Схема расщепления энергетического уровня электрона
при взаимодействии с ядром
Основные параметры спектров ЭПР – интенсивность, форма и ши- рина резонансной линии, g-фактор, константы тонкой и сверхтонкой структуры.
На практике обычно регистрируется первая, реже – вторая произ- водная кривой поглощения.
Количественный анализ базируется на определении интегральной интенсивности сигнала I∞, измеряемой как площадь под кривой сигнала поглощения (рис. 3.54, а). Для линии поглощения
00 dHHfI . (3.69)
104
Рис. 3.54. Спектр ЭПР: а – кривая поглощения ЭПР; б – первая производная по- глощения (процедура двойного интегрирования); в – вторая производная поглоще-
ния
Величина I∞ пропорциональна числу неспаренных e в образце (Nx). Если сравнить с площадью образца сравнения, то из уравнения
CTCT
x
I I
N N
(3.70)
можно рассчитать концентрацию вещества в пробе. В ряде случаев интегральную интенсивность можно приближенно
оценить, пользуясь выражением: 2
максмакспл HIS , (3.71)
где Sпл – площадь под кривой поглощения; Iмакс – интенсивность линии. Регистрацию спектров осуществляют с помощью спектрометра,
блок-схема которого представлена на рисунке 3.55. В условиях резонан- са излучение поглощается спиновой системой. Модулированное погло- щением излучение по волноводу (В) поступает на детектор Д. После де- тектирования сигнал усиливается на усилителе У и подается на реги- стрирующее устройство П. В этих условиях регистрируется и инте- гральная линия поглощения ЭПР. Для повышения чувствительности и разрешения спектрометров ЭПР используют высокочастотную модуля- цию (ВЧ) (обычно 100 кГц) внешнего магнитного поля, осуществляе- мую с помощью модуляционных катушек. ВЧ модуляция и детектиро- вание преобразуют сигнал ЭПР в первую производную кривой погло- щения, в виде которой и происходит регистрация спектров ЭПР в боль-
105
шинстве серийных спектрометров. Иногда используют спектрометры, работающие в диапазоне длин волн 8 мм и 2 мм, что позволяет суще- ственно улучшить разрешение по g-фактору.
Рис. 3.55. Блок-схема спектрометра ЭПР: К – источник СВЧ излучения;
В – волноводы; Р – объемный резонатор; Д – детектор СВЧ излучения; У – усили- тель; NS – электромагнит; П – регистрирующее устройство
К основным преимуществам метода ЭПР относят следующее: на результаты измерений не оказывает влияния диамагнетизм
молекул системы; метод ЭПР обладает исключительными возможностями: для
обнаружения и исследования строения парамагнитных активных частиц типа свободных радикалов и комплексов; для установления электронно- го строения парамагнитных ионов в самых различных соединениях
возможность не только обнаружить, измерить концентрации, идентифицировать свободные радикалы и установить их структуру, но и решить вопрос о степени и характере делокализации неспаренного элек- трона по парамагнитной частице, о силе его взаимодействия с различ- ными ядрами в молекуле и с другими неспаренными электронами си- стемы.
Методом ЭПР можно определять концентрацию и идентифициро- вать парамагнитные частицы в любом агрегатном состоянии, что неза- менимо для исследования кинетики и механизма процессов, происхо- дящих с их участием. Спектроскопия ЭПР применяется в радиационной химии, фотохимии, катализе, в изучении процессов окисления и горе- ния, строения и реакционной способности свободных радикалов и ион- радикалов, полимерных систем с сопряженными связями. Детальное ис- следование спектров ЭПР парамагнитных ионов d- и f-элементов позво- ляет определить валентное состояние иона, найти симметрию кристал- лического поля, количественно изучать кинетику и термодинамику мно-
106
гоступенчатых процессов комплексообразования ионов. Динамические эффекты в спектрах ЭПР, проявляющиеся в уширении отдельных ком- понент СТС (за счет внутри- и межмолекулярных химических реакций) позволяют количественно исследовать эти реакции, внутримолекуляр- ные процессы вращения отдельных фрагментов в радикалах, вырожден- ные переходы, внутримолекулярные процессы перемещения атомов или групп атомов в радикалах.
- Глава 1. Отбор и подготовка пробы к анализу
- 1.1. Отбор пробы
- 1.2. Отбор пробы газов
- 1.3. Отбор проб жидкостей
- 1.4. Отбор пробы твердых веществ
- 1.5. Способ отбора
- 1.6. Потери при пробоотборе и хранение пробы
- 1.7. Подготовка пробы к анализу
- Глава 2. Статистическая обработка результатов
- 2.1. Погрешности химического анализа. Обработка результатов измерений
- 2.2. Систематическая ошибка
- 2.3. Оценка точности и правильности измерений при малом числе определений
- 2.4. Доверительный интервал и доверительная вероятность (надежность)
- 2.5. Аналитический сигнал. Измерение
- Глава 3. Спектральные методы исследования веществ
- 3.1. Абсорбционная спектроскопия
- 3.1.1. Фотометрический анализ
- 3.1.1.1. Выбор длины света и светофильтра в фотометрическом анализе
- 3.1.1.2. Основные приемы фотометрического анализа
- 3.1.1.3. Анализ смеси окрашенных веществ
- 3.1.1.4. Аппаратура, используемая в анализе
- 3.1.1.5. Нефелометрия и турбидиметрия
- 3.1.2. Атомно-абсорбционная спектроскопия
- 3.1.2.1. Основы метода
- 3.1.2.2. Аппаратура, используемая в анализе
- 3.2. Эмиссионный спектральный анализ
- 3.2.1. Происхождение эмиссионных спектров
- 3.2.2. Источник возбуждения
- 3.2.3. Качественный анализ
- 3.2.4. Количественный анализ
- 3.2.5. Схема проведения аэса
- 3.2.6. Аппаратура, используемая в анализе
- 3.2.6.1. Принцип работы универсального стилоскопа
- 3.2.6.2. Принцип работы спектрографа
- 3.2.6.3. Принцип работы микрофотометра
- 3.3. Фотометрия пламени
- 3.3.1. Чувствительность анализа
- 3.3.2. Количественное определение элементов
- 3.3.3. Измерение интенсивности излучения
- 3.3.4. Методы определения концентрации растворов в фотометрии пламени
- 3.4. Методы колебательной спектроскопии. Ик-спектроскопия и спектроскопия комбинационного рассеяния
- 3.4.1. Основы методов
- 3.4.2. Спектры ик и комбинационного рассеяния (кр)
- 3.4.3. Аппаратура, используемая в анализе
- 3.5. Люминесцентный анализ
- 3.5.1. Классификация и величины, характеризующие люминесцентное излучение
- 3.5.2. Основы метода
- 3.5.3. Аппаратура, используемая в анализе
- 3.6. Рентгеновская спектроскопия
- 3.6.1. Основные методы
- 3.6.1.1. Взаимодействие рентгеновского излучения с веществом
- 3.6.1.2. Рентгеновский спектр
- 3.6.2. Рентгено-эмиссионный анализ
- 3.6.2.1. Качественный анализ
- 3.6.2.2. Количественный анализ
- 3.6.2.3. Аппаратура
- 3.6.3.2. Аппаратура метода
- 3.6.4. Рентгено-абсорбционный анализ
- 3.6.5.1. Основы метода
- 3.6.5.2. Аппаратура
- 3.7. Радиоспектроскопические методы
- 3.7.1. Основы метода
- 3.7.2. Электронный парамагнитный резонанс
- 3.7.3. Ядерно-магнитный резонанс
- 3.7.3.1. Основы метода
- 3.7.3.2. Аппаратура
- 3.7.4. Ядерный квадрупольный резонанс
- 3.7.5. Другие методы радиоспектроскопии
- 3.8. Ядерная спектроскопия
- 3.8.4. Нейтронная спектроскопия
- 3.9. Лазерная спектроскопия
- 3.10. Электронная спектроскопия
- 3.10.1. Фотоэлектронная спектроскопия
- 3.10.2. Спектроскопия характеристических потерь энергии электронов
- 3.11. Вакуумная спектроскопия
- 3.12. Ультрафиолетовая спектроскопия
- Глава 4. Масс-спектрометрический метод анализа
- 4.1. Принцип действия масс-спектрометра
- 4.2. Виды масс-анализаторов
- 4.3. Элементный анализ
- 4.4. Интерпретация масс-спектров
- Глава 5. Хроматографические методы
- 5.1. Классификация хроматографических методов
- 5.2. Хроматографические параметры
- 5.3. Теория хроматографического разделения
- 5.4. Теория теоретических тарелок
- 5.5. Кинетическая теория хроматографии
- 5.6. Аппаратура
- 5.7. Качественный анализ
- 5.8. Количественный анализ
- 5.9. Газовая хроматография
- 5.9.1. Газотвердофазная хроматография
- 5.9.2. Газожидкостная хроматография
- 5.10. Жидкостная хроматография
- Глава 6. Электрохимические методы
- 6.1. Основные понятия электрохимии
- 6.1.1. Электрохимическая ячейка и ее электрический эквивалент
- 6.1.2. Индикаторный электрод и электрод сравнения
- 6.1.3. Гальванический элемент
- 6.1.4. Электрохимические системы
- 6.1.4.1. Равновесные электрохимические системы
- 6.1.4.2. Неравновесные электрохимические системы
- 6.2. Потенциометрия
- 6.2.1. Прямая потенциометрия (ионометрия)
- 6.2.2. Потенциометрическое титрование
- 6.2.3. Аппаратура
- 6.3. Кулонометрия
- 6.3.1. Прямая кулонометрия
- 6.3.2. Кулонометрическое титрование
- 6.4. Вольтамперометрия
- 6.4.1. Амперометрическое титрование
- 6.4.2. Титрование с двумя индикаторными электродами
- 6.5. Кондуктометрический метод анализа
- Глава 7. Методы термического анализа
- 7.1. Термогравиметрия и дтг
- 7.2. Метод дифференциального термического анализа
- 7.3. Дифференциальная сканирующая калориметрия
- 7.4. Дериватография
- 7.5. Дилатометрия и другие термические методы анализа
- Глава 8. Дифракционные методы анализа
- 8.1. Основы теории дифракции
- 8.2. Методы дифракционного анализа
- Глава 9. Микроскопические методы анализа
- 9.1. Световая микроскопия
- 9.2. Электронная микроскопия
- 9.2.1. Растровая электронная микроскопия
- 9.2.1.1. Аппаратура метода рэм
- 9.2.1.2. Использование вторичных и отраженных электронов в рэм
- 9.2.1.3. Типы контраста в растровой электронной микроскопии
- 9.2.1.4. Выбор условий работы рэм и подготовка образцов
- 9.2.1.5. Объекты исследования и их подготовка
- 9.2.2. Просвечивающая электронная микроскопия
- 9.2.2.1. Общая характеристика пэм
- 9.2.2.2. Аппаратура метода
- 9.2.2.3. Разновидности метода пэм
- 9.3. Сканирующие зондовые методы исследования
- 9.3.1. Сканирующая туннельная микроскопия
- 9.3.2. Атомно-силовая микроскопия
- 9.3.3. Магнитосиловая зондовая микроскопия
- 9.3.4. Сканирующая микроскопия ближней оптической зоны
- Глава 3. Спектральные методы исследования веществ .................................................................................................... 25
- Глава 4. Масс-спектрометрический метод анализа ....................................................................................................................... 152
- Глава 6. Электрохимические методы .............................. 193 6.1. Основные понятия электрохимии .............................................. 194