Очистка подложек
Наличие на поверхности подложки загрязнений (пыль, пленки жира, влаги, отсорбированіх газов) существенно влияет на адгезию и химический состав наносимых на подложку тонких пленок. Поэтому подложки подвергаются тщательной очистке как до установки их в вакуумную камеру, так и в вакуумной камере.
Предварительная вневакуумная очистка подложек, в основном производится с целью удаления с их поверхности жировых загрязнений. Такая очистка осуществляется обычно химическим способом – обработкой подложек органическим растворителем и промывкой в деионизованой воде. Весьма эффективным органическим растворителем является изоприловый спирт. Очистка подложек в его парах, что дает возможность совмещать процесс очистки и регенерацию растворителя, т. к. образующийся в процессе конденсации паров изоприлового спирта на подложке конденсат растворяетжировые загрязнения и стекает в испаритель, где вновь возгоняется, оставив загрязнения в растворе. Процесс очистки может быть значительно ускорен при одновременном воздействии на подложки у/зв. колебаний. Для этой цели подложки помещают в у/зв. установку, оборудованную установку изоприлового спирта (после очистки подложки хранятся в ексикаторе с отожженным силикагелем т. к. поверхность их подвержена быстрому повторному загрязнению).
Контроль качества предварительной очистки подложек осуществляется выборочно – чаще всего для этой цели используют метод капли – основан на том, что очищенная поверхность хорошо смачивается, поэтому капля жидкости на ней растекается. Если же капля не растекается, то поверхность очищена плохо.
Окончательная очистка подложек осуществляется в вакуумной камере непосредственно перед нанесением тонких пленок. При этом удаление с поверхности паров воды и отсортированных молекул газа производится путем нагрева подложек в вакууме до 200 – 3000С, а удаление мономолекулярных слоев органических молекул – ионной бомбардировкой поверхности подложки в условиях тлеющего разряда переменного тока, создаваемого в вакуумной камере при давлении 10-2 – 10-3 мм. рт. ст.
Очистка резистивных испарений – изготавливается из тугоплавких металлов (Mo, W, Tа) методом штамповки; имеют весьма загрязненную поверхность. Поэтому перед использованием таких испарителей их подвергают очистке – обезжиривание, травление, отжиг хранят их после очистки в бензине.
Очистка навесок испаряемых материалов аналогичен процессу очистки резистивных испарений т. е. сначала навеску обезжиривают, затем травят, и, наконец, обезгаживают в вакууме непосредственно перед испарением.
2. Нанесение пасивної частини методами:
2.1. Вільних трафаретів – масок:
– на індивідуальних установок;
– установках карусельного типу.
2.2. Напилення цільного слою плівки з наступною фотолітографією.
- Технологія виробництва радіоапаратури
- Порядковий номер стандарту в групі
- Ктре . Ххххх . Ххххх Порядковий реєстраційний номер
- Код організації-розроблювача
- Обладнання, що використовується для гальванопокриттів
- Методи переробки прес-матеріалів
- Пряме пресування
- Виливальне пресування
- Лиття під тиском (інжектування)
- Профільне пресування та шприцювання
- Види відпалів
- Матеріали для каркасів
- Позитивний
- Негативний
- Конвейер робочий
- Конвейер розподільний
- Конвеєр робочий
- Конвеєр розподільний
- Розділ 4. Мікромініатюризація.
- Методи отримання тонких плівок
- Основные этапы производства тонкопленочных микросхем (гис).
- Очистка подложек
- Контроль технологического процесса нанесения тонких пленок
- Резка подложек
- 1 Платы толстопленочных гис
- Структурная схема технологического процесса изготовления толстопленочных гис
- 2 Пасты для толстопленочных гис
- 3 Основные технологические операции изготовления толстопленочных гис