logo search
Otchet_po_NLMK_2_kurs

Автоматический структурный анализ.

Область применения:

Прибор работает по принципу линейного анализа. Он предназначен для структурно- аналитических исследований твердых, гетерогенных веществ, у которых физические и технологические свойства зависят от геометрический микроструктуры и структурные составляющие которых имеют различный коэффициент отражения. Кроме того возможен анализ крупности зерен в порошках, у отдельных зерен и других сыпучих материалов в пределах от 1мкм до1024мкм.

Принцип измерения:

Количественный учет составляющих структуры в микроскопическом изображении может осуществляться аналитическими автоматами по различным принципам развертывания, если дана возможность различения отражающей способности или пропускания всех интересующих элементов за счет соответствующей подготовки (травление, окрашивание и др.). Линейный анализатор работает по принципу механического развертывания объектов.

При линейном анализе накладывается и измеряется на поверхности образца достаточно длинная, не обязательно прямолинейная измерительная линия произвольной ориентации, которая также может состоять из некоторых участков.

Из изображения, которое создается в плоскости или промежуточной плоскости изображения в микроскопе, выделяется при помощи диафрагмы с отверстием небольшой участок. Проходящий через измерительную диафрагму световой поток тогда служит в качестве меры величины коэффициента отражения или пропускания данного участка объекта. Свет попадает на расположенный за измерительной диафрагмой фотоэлектрический приемник соответствующей чувствительности, который преобразует световой поток в пропорциональный электрический ток (аналоговый сигнал).

Аналого-цифровой преобразователь преобразует аналоговые сигналы в цифровые, которые затем относятся к определенным счетчикам. Получаемые от различных составляющих структуры световые потоки вдоль охваченной линии измерения дадут аналоговые сигналы разной высоты; получается характерная последовательность импульсов. Высота сигнала является мерой интенсивности света, а продолжительность сигнала – мерой длины пересечения измеряемого объекта. Таким образом, например, возможно выполнить структурно-аналитические исследования твердых, гетерогенных веществ, свойства которых зависят от геометрической микроструктуры, и различные составляющие которых имеют различную отражательную способность.

Полученные данные измерения можно с учетом соответствующих геометрических и статистических закономерностей пересчитать в пространственные основные данные, с помощью которых можно количественно охарактеризовать количество, размер, вес, распределение и частично также расположение составляющих структуры. С помощью этих данных возможно характеризовать химические, физические и технологические свойства материалов.